Phenom ParticleX AM

Thermo Scientific™ Phenom™ ParticleX skanningselektronmikroskop (SEM) for additiv produksjon. Phenom ParticleX AM Desktop SEM er et flerbruk desktop SEM som leverer renhet på mikroskalaen.

Ta kontroll over dataene dine internt:

Overvåk kritiske egenskaper ved metallpulvere Egnet for pulverbed- og pulverfôrede additiv produksjonsprosesser Identifiser partikkelstørrelsesfordelinger, individuell partikkelmorfologi og fremmede partikler

Den er utstyrt med en kammer som tillater analyse av store prøver opptil 100 mm x 100 mm. En proprietær ventilasjons-/lastemekanisme sikrer den raskeste vent-/lastesyklusen i verden, noe som gir høyest gjennomstrømming.

Et økende antall produksjonsbedrifter etablerer skanningselektronmikroskopi (SEM) systemer internt. Denne trenden, fra outsourcing til intern analyse, vokser, og fordelene, som muligheten til å utføre et bredt spekter av automatiserte desktop analyser, kjemisk klassifisering og verifisering i henhold til spesifikke normer, er klare. Systemet er automatisert og tilbyr analyse av flere prøver, noe som gjør testing og klassifisering opptil 10 ganger raskere, og gir sikkerhet innen en dag.

Phenom ParticleX Desktop SEM gir ikke bare høykvalitets SEM-analyse, den er også designet for å utføre en rekke spesifikke funksjoner. Disse inkluderer partikkelanalyse av metallpulver på mikroskalaen for additivindustrien, og bekreftelse av at komponenter oppfyller tekniske renhetsspesifikasjoner i henhold til VDA19 eller ISO16232 standarder. Alt dette nå mulig internt og på skrivebordet ditt.