Nicolet RaptIR X FTIR Mikroskop

Thermo Scientific Nicolet RaptIR X FTIR-mikroskop kombinerar optisk mikroskopi och infraröd spektroskopi för detaljerad analys av små och komplexa prover. Genom att koppla samman visuell inspektion med kemisk analys kan användaren undersöka både var en komponent finns och vad den består av. Det gör systemet användbart när provet innehåller små partiklar, tunna skikt, fibrer, föroreningar eller områden med avvikande materialegenskaper.

RaptIR X är utformat för laboratorier som behöver arbeta effektivt med materialidentifiering och mikroskopisk felanalys. Mikroskopet kan samla in upp till 10 spektra per sekund och erbjuder analys med transmission, reflexion och micro-ATR. Upplösningen är upp till 1 µm i synligt ljus och 5 µm i infrarött, vilket hjälper användaren att lokalisera och analysera små områden i provet.

Effektiv analys av små områden

Att hitta rätt område i ett prov och sedan samla in tillförlitliga data kan vara tidskrävande. RaptIR X kombinerar optisk visning och FTIR-analys i ett arbetsflöde, så att användaren kan gå från att lokalisera en intressant detalj till att undersöka dess kemiska sammansättning. Systemets automatiserade funktioner och guidande arbetsflöden är utformade för att förenkla återkommande analyser, samtidigt som metoderna kan anpassas för mer avancerade undersökningar.

Flexibla mätlägen och provtyper

Olika prover kräver olika mätmetoder. RaptIR X stöder transmission, reflexion och micro-ATR, vilket ger flexibilitet vid analys av exempelvis partiklar, fibrer, filmer, beläggningar och materialskikt. Den robusta provplattformen kan hantera prover upp till 40 mm tjocka och 5 kg, vilket gör det möjligt att arbeta med ett brett urval av provstorlekar och former.

Mjukvara för arbetsflöden och analys

RaptIR X använder Thermo Scientific OMNIC Paradigm Software. Mjukvaran erbjuder guidande arbetsflöden och automatiserade funktioner som kan bidra till en mer konsekvent analysprocess. För användare med mer avancerade behov finns möjlighet att anpassa metoder och arbetsflöden efter prov och applikation. Mikroskopet kan användas fristående eller integreras med kompatibla Nicolet Apex- eller Nicolet iS50 FTIR-spektrometrar.

För materialanalys och felundersökning

RaptIR X kan användas inom en rad områden där material behöver identifieras eller undersökas på mikroskopisk nivå. Exempel är polymer- och laminatanalys, läkemedelsutveckling, mikroplastanalys, kriminalteknik, geologi samt undersökning av föroreningar och materialdefekter. Kombinationen av bildåtergivning och kemisk analys kan hjälpa laboratoriet att förstå både provets struktur och sammansättning.