Elemental Mapping Software

Elementkartlegging og linjeskanning er en valgfri funksjon innenfor EID-programvarepakken. Elementkartlegging avslører fordelingen av elementer innenfor prøven. Her kan tidligere valgte elementer for punktanalysen kartlegges med en brukerspesifisert pikseloppløsning og anskaffelsestid. Algoritmen for sanntidskartlegging viser live oppbygging av de valgte elementkartene mens den lagrer spektra for hvert piksel. Dette gjør det mulig å legge til eller fjerne elementer når som helst under eller etter kartleggingsprosessen.

Kartlegging kan gjøres på bildet som helhet, men det er en tilleggsfordel inkludert for å spare tid ved å legge til valget for Valgt Område. Linjeskanning tillater analyse over en valgt linje.

Nøkkelen ligger i muligheten til å velge hver av følgende: antall punkter, oppholdstid per punkt og antall passeringer. I tillegg kan resultatene enkelt eksporteres og rapporteres via en automatisert mal.

Nøkkelspesifikasjoner

• Rask og pålitelig informasjon om fordelingen av elementer innenfor prøven eller den valgte linjen
• Resultater som enkelt kan eksporteres og rapporteres