Nicolet RaptIR X FTIR-mikroskop
Trenger du hjelp?
Vi hjelper deg med å finne den riktige løsningen. Vi tilbyr support, service, kalibrering og opplæring for alle våre produkter. Kontakt oss gjerne for et forslag på servicekontrakt.
Service & reparasjon Få et tilbudThermo Scientific Nicolet RaptIR X FTIR-mikroskopet kombinerer optisk mikroskopi og infrarødspektroskopi for detaljert analyse av små og komplekse prøver. Ved å kombinere visuell inspeksjon med kjemisk analyse kan brukeren undersøke både plasseringen av en komponent og dens sammensetning. Dette gjør systemet nyttig når prøven inneholder små partikler, tynne lag, fibre, urenheter eller områder med unormale materialegenskaper.
RaptIR X er utviklet for laboratorier som trenger å jobbe effektivt med materialidentifisering og mikroskopisk defektanalyse. Mikroskopet kan samle inn opptil 10 spektre per sekund og tilbyr analyse med transmisjon, refleksjon og mikro-ATR. Oppløsningen er opptil 1 µm i synlig lys og 5 µm i infrarødt, noe som hjelper brukeren med å lokalisere og analysere små områder av prøven.
Effektiv analyse av små områder
Det kan være tidkrevende å finne riktig område i en prøve og deretter samle inn pålitelige data. RaptIR X kombinerer optisk visning og FTIR-analyse i én arbeidsflyt, slik at brukeren kan gå fra å lokalisere en interessant funksjon til å undersøke dens kjemiske sammensetning. Systemets automatiserte funksjoner og veiledede arbeidsflyter er utviklet for å forenkle gjentakende analyser, mens metodene kan tilpasses for mer avanserte undersøkelser.
Fleksible målemoduser og prøvetyper
Ulike prøver krever forskjellige målemetoder. RaptIR X støtter transmisjon, refleksjon og mikro-ATR, noe som gir fleksibilitet i analysen av partikler, fibre, filmer, belegg og materiallag, for eksempel. Den robuste prøveplattformen kan håndtere prøver opptil 40 mm tykke og 5 kg, noe som gjør det mulig å jobbe med et bredt spekter av prøvestørrelser og -former.
Programvare for arbeidsflyt og analyse
RaptIR X bruker Thermo Scientific OMNIC Paradigm-programvare. Programvaren tilbyr veiledede arbeidsflyter og automatiserte funksjoner som kan bidra til en mer konsistent analyseprosess. For brukere med mer avanserte behov er det muligheten til å tilpasse metoder og arbeidsflyter i henhold til prøve og applikasjon. Mikroskopet kan brukes frittstående eller integrert med kompatible Nicolet Apex- eller Nicolet iS50 FTIR-spektrometre.
For materialanalyse og defektundersøkelse
RaptIR X kan brukes på en rekke områder der materialer må identifiseres eller undersøkes på mikroskopisk nivå. Eksempler inkluderer polymer- og laminatanalyse, legemiddelutvikling, mikroplastanalyse, rettsmedisin, geologi og undersøkelse av forurensninger og materialdefekter. Kombinasjonen av avbildning og kjemisk analyse kan hjelpe laboratoriet med å forstå både strukturen og sammensetningen av prøven.
Kategorier
Victor Bjärknemyr
- Salg - Materialanalyse
- Telefon: +46 18 56 68 45
- Mobil: +46 76 766 74 13
- victor.bjarknemyr@gammadata.se

