Föregående
Se fler

TFA L59

Tarvitsetko apua?

Autamme sinua löytämään oikean ratkaisun. Tarjoamme tukea, huoltoa, kalibrointia ja koulutusta kaikista tuotteistamme. Ota yhteyttä palvelusopimusta varten!

 

Huolto & Korjaukset Tarjouspyyntö

Linseis TFA L59 on pienikokoinen, täysin integroitu mittausalusta, joka on suunniteltu ohutkalvomateriaalien tarkkaan karakterisointiin. Räätälöity nykyaikaisen tutkimuksen ja kehityksen tarpeisiin, tämä helppokäyttöinen järjestelmä tarjoaa nopean ja tarkan arvioinnin tärkeistä fysikaalisista ominaisuuksista, joissa pinta- ja rajapintavaikutukset ovat hallitsevassa asemassa.

Miksi ohutkalvoja?

Ohutkalvoilla on merkittävästi erilaisia ominaisuuksia verrattuna niiden massiivisiin vastineisiin johtuen pintavaikutuksista, pienentyneestä ulottuvuudesta ja suuresta kuvasuhteesta. Nämä ilmiöt ovat keskeisiä puolijohteissa, termoelektroniikassa ja nanoteknologiassa, joissa suorituskyky riippuu usein juuri ohutkalvojen käyttäytymisestä.

Mitatut ominaisuudet:

  • Lämmönjohtokyky
  • Sähköresistiivisyys
  • Seebeck vakio
  • Hallin liikkuvuus
  • Varauksenkuljettajapitoisuus

Tärkeimmät hyödyt:

  • Pitkälle integroitu kokonaisuus – Minimaalinen asennusaika, maksimaalinen tehokkuus
  • Käyttäjäystävällinen käyttöliittymä – optimoitu helppokäyttöisyyttä silmällä pitäen
  • Korkea tarkkuu ja nopeus – Nopeat mittaukset tieteellisellä tarkuudella
  • Edistyksellinen ohutfilmiominaisuus – Tarkoituksellisesti rakennettu nano- ja mikroskaalan materiaaleille

Tietolomake

Ota yhteyttä

Timo Saarela

Tekniset tiedot

Malli TFA L59 – THIN FILM ANALYZER
Lämpötila-alue: Huoneenlämpö … 280°C
-160°C … 280°C
Näytteen paksuus: 5 nm … 25 µm (näyteriippuvainen)
Mittausperiaate: Sirupohjainen (esivalmistetut mittaussirut, 24 kpl/laatikko)
Erotustekniikat: mm.: PVD (sputterointi, höyrystäminen), ALD, linkouspinnoitus, mustesuihkutulostus ja paljon muuta
Mitatut parametrit: Sähkönjohtokyky (3 Omega)
Lämpökapasiteetti
Valinnaien: Sähkönjohtokyky / ominaisvastus
Hallin vakio/ liikkuvuus / varauksenkuljettajien tiheys
(sähkömagneetti jopa 1 T tai kestomagneetti  0.5 T)
Vakuumi: ~10E-4mbar
Komponentit: Integroitu
Liityntä: USB
Mittausalue
Lämmönjohtokyky 0.05 … 200 W/m∙K
3 Omega menetelmä, kuumaliuskamenetelmä (mittaus tasossa)
Sähkönjohtokyky: 0.05 … 1 ∙ 106 S/cm
Van der Pauw nelipistemittaus
Seebeck vakio: 5 … 2500 μV/K
Toistettavuus & Tarkkuus
Lämmönjohtokyky: ± 3% (useimmille materiaaleille)
± 10% (useimmille materiaaleille)
Resistiivisyys: ± 3% (useimmille materiaaleille)
± 6% (useimmille materiaaleille)
Seebeck vakio ± 5% (useimmille materiaaleille)
± 7% (useimmille materiaaleille)

We use cookies on your website to give you the best experience. Read more here.