TFA – L59
Tarvitsetko apua?
Autamme sinua löytämään oikean ratkaisun. Tarjoamme tukea, huoltoa, kalibrointia ja koulutusta kaikista tuotteistamme. Ota yhteyttä palvelusopimusta varten!
Huolto & Korjaukset Tarjouspyyntö
Ainutlaatuinen laite ohutkalvojen kattavaan karakterisointiin nanometristä mikrometriskaalaan.
Vallankumouksellinen ohutkalvojen fysikaalisten ominaisuuksien karakterisointijärjestelmä. Erittäin integroitu ja helppokäyttöinen mittausalusta.
Ohutkalvojen fysikaaliset ominaisuudet poikkeavat irtomateriaalista, sillä pienemmistä mitoista ja suurista kuvasuhteista johtuen haitalliset pintaefektit ovat huomattavasti voimakkaampia!
Laitteiston pääominaisuudet
- Korkealaatuinen ja helppokäyttöinen ohutkalvojen karakterisointijärjestelmä (nm–µm-alue)..
- Lämpötilariippuvaiset mittaukset (-170 °C – +280 °C).
- Helppo näytteiden valmistelu ja käsittely.
- Sirupohjainen mittauslaite, jossa käytetään esirakenteisia siruja kulutustavarana.
- Suuri mittausjoustavuus (näytteen paksuus, resistiivisyys, pinnoitusmenetelmät).
- Kaikki mittaukset suoritetaan samasta näytteestä yhdellä mittauskerralla.
- Soveltuu puolijohteiden, metallien, keraamien ja orgaanisten materiaalien mittaamiseen.
| Mitatut parametrit: | Lämmönjohtokyky (3 Omega) Ominaislämpö |
| Optional: | Sähköjohtokyky / Ominaisresistanssi Seebeck -vakio Hallin vakio/ liikkuvuus / kantajapitoisuus Sähkömagneetti jopa 1 T tai kestomagneetti jopa 0.5 T |
Tietolomake
Ota yhteyttä
Timo Saarela
- Myynti - Materiaalianalyysi
- Matkapuhelin: +358 400 510282
- timo.saarela@gammadata.fi
