Hall Ilmiö Analyysi
TFA L59
Linseis TFA L59 on pienikokoinen, täysin integroitu mittausalusta, joka on suunniteltu ohutkalvomateriaalien tarkkaan karakterisointiin....
HCS L36
Linseis HCS -järjestelmiä käytetään ensisijaisesti puolijohdemateriaalien karakterisointiin. Näillä järjestelmillä voidaan mitata useita...