EGA – Optical In-Situ Evolved Gas Analysis
Behöver du hjälp?
Vi hjälper dig hitta rätt lösning. Vi erbjuder support, service, kalibrering och utbildningar för alla våra produkter. Kontakta oss för serviceavtal!
Service & reparation OffertförfråganMöjlig att användas med följande tekniker:
FTIR: Fourier Transform Infrared Spektroskopi:
- Mätning av bas- och spårgaskomponenter ner till ppm-intervallet
- H2O, CO2, CO, H2S m. fl.
- Polära molekyler är nödvändiga
Raman-spektroskopi:
- Mätning av basgaskomponenter
- Även opolära molekyler som H2 eller N2 mätbara
ELIF: Excimer Laser-inducerad Fragmentation Fluorescens
- Metod baserad på UV-laser för mätning av gasformiga alkaliska föreningar
- NaCl, NaOH, KCI, KOH m. fl.
- Vid 193 nm är även UV-saphire en möjlig ingång
Fördelar med det optiska In-Situ-fönstret:
- Ingen kylning/modifiering av mätgasen, till exempel ingen utkondensering, ingen övergångsreaktion, ingen jämviktsförskjutning, m. fl.
- Många material med hög kondensationstemperatur till exempel alkalimetaller så som Na, K och deras kombinationer kan nu mätas
- Uppvärmd kappilär endast lämplig för cirka 200 – 250°C
- Den optiska porten tillåter mätning upp till 1600°C
- Inget ingrepp i mätsystemet, till exempel vid utsugning av gas med vakuum
- Ingen kontaminering av mätgasen i kapillären till MS eller FTIR
- Online-mätning i realtid, ingen väntetid tills mätvolymen kommer in i mätinstrumentet
Kontakt
Chris Bradburn
- Försäljning - Materialanalys
- Telefon: +46 (0)18-56 68 09
- Mobil: +46 (0)70-396 18 88
- chris.bradburn@gammadata.se
