Föregående
Se fler

EGA – Optical In-Situ Evolved Gas Analysis

Behöver du hjälp?

Vi hjälper dig hitta rätt lösning. Vi erbjuder support, service, kalibrering och utbildningar för alla våra produkter. Kontakta oss för serviceavtal!

Service & reparation Offertförfrågan
Möjlig att användas med följande tekniker:
FTIR: Fourier Transform Infrared Spektroskopi:
  • Mätning av bas- och spårgaskomponenter ner till ppm-intervallet
  •  H2O, CO2, CO, H2S m. fl.
  • Polära molekyler är nödvändiga
Raman-spektroskopi:
  • Mätning av basgaskomponenter
  • Även opolära molekyler som H2 eller N2 mätbara
ELIF: Excimer Laser-inducerad Fragmentation Fluorescens
  • Metod baserad på UV-laser för mätning av gasformiga alkaliska föreningar
  • NaCl, NaOH, KCI, KOH m. fl.
  • Vid 193 nm är även UV-saphire en möjlig ingång
Fördelar med det optiska In-Situ-fönstret:
  • Ingen kylning/modifiering av mätgasen, till exempel ingen utkondensering, ingen övergångsreaktion, ingen jämviktsförskjutning, m. fl.
  • Många material med hög kondensationstemperatur till exempel alkalimetaller så som Na, K och deras kombinationer kan nu mätas
  • Uppvärmd kappilär endast lämplig för cirka 200 – 250°C
  • Den optiska porten tillåter mätning upp till 1600°C
  • Inget ingrepp i mätsystemet, till exempel vid utsugning av gas med vakuum
  • Ingen kontaminering av mätgasen i kapillären till MS eller FTIR
  • Online-mätning i realtid, ingen väntetid tills mätvolymen kommer in i mätinstrumentet

Kontakt

Chris Bradburn

Chris

Vi använder cookies för att ge dig bästa möjliga upplevelse på vår hemsida. Läs mer om vår hantering av personuppgifter här.