Föregående
Se fler

TFA – Tunnfilmsanalys

Behöver du hjälp?

Vi hjälper dig hitta rätt lösning. Vi erbjuder support, service, kalibrering och utbildningar för alla våra produkter. Kontakta oss för serviceavtal!

Service & reparation Offertförfrågan

Unikt instrument för en omfattande tunnfilmskarakterisering från nm- till µm-skalan

Det här instrumentet har revolutionerande fysikaliska egenskaper för tunnfilmskarakterisering, och ger dig en helt integrerad och lättanvänd mätplattform.

Fysiska egenskaper hos tunna filmer skiljer sig från bulkmaterial, eftersom parasitiska yteffekter är mycket starkare på grund av mindre dimensioner och höga aspektförhållanden.

Huvudegenskaper hos systemet:
  • Högkvalitativt och lättanvänt karaktäriseringssystem för tunna filmer (nm till µm räckvidd)
  • Temperaturberoende mätningar (-170°C upp till +280°C)
  • Enkel provberedning och hantering
  • Chipbaserad mätanordning med förstrukturerade chips som förbrukningsmaterial
  • Hög mätflexibilitet (provtjocklek, provresistivitet, deponeringsmetoder)
  • Alla mätningar tas från samma prov i en körning
  • Det är möjligt att mäta såväl halvledare som metaller, keramik eller organiska ämnen

 

Mätbara parametrar: Termisk Konduktivitet (3 Omega)
Specifik värme
Tillval: Elektrisk konduktivitet/Resistans
Seebeckkoefficient
Hallkonstant/Mobilitet/Laddbärarkoncentration
Elektromagnet upp till 1 T eller permanent magnet upp till 0.5 T

Kontakt

Chris Bradburn

Chris

Vi använder cookies för att ge dig bästa möjliga upplevelse på vår hemsida. Läs mer om vår hantering av personuppgifter här.