Nicolet RaptIR X FTIR -mikroskooppi

Thermo Scientific Nicolet RaptIR X FTIR -mikroskooppi yhdistää optisen mikroskopian ja infrapunaspektroskopian pienten ja monimutkaisten näytteiden yksityiskohtaiseen analysointiin. Yhdistämällä visuaalisen tarkastuksen kemialliseen analyysiin käyttäjä voi tutkia sekä komponentin sijaintia että sen koostumusta. Tämä tekee järjestelmästä hyödyllisen, kun näyte sisältää pieniä hiukkasia, ohuita kerroksia, kuituja, epäpuhtauksia tai poikkeavien materiaaliominaisuuksien alueita.

RaptIR X on suunniteltu laboratorioille, joiden on työskenneltävä tehokkaasti materiaalien tunnistamisen ja mikroskooppisen virheanalyysin parissa. Mikroskooppi voi kerätä jopa 10 spektriä sekunnissa ja tarjoaa analyysin, jossa on transmissio, heijastus ja mikro-ATR. Resoluutio on jopa 1 µm näkyvässä valossa ja 5 µm infrapunassa, mikä auttaa käyttäjää paikantamaan ja analysoimaan pieniä alueita näytteestä.

Pienten alueiden tehokas analyysi

Oikean alueen löytäminen otoksesta ja sitten luotettavan tiedon kerääminen voi viedä aikaa. RaptIR X yhdistää optisen katselun ja FTIR-analyysin yhteen työnkulkuun, jolloin käyttäjä voi siirtyä mielenkiintoisen yksityiskohdan paikantamisesta sen kemiallisen koostumuksen tutkimiseen. Järjestelmän automatisoidut toiminnot ja ohjaavat työnkulut on suunniteltu yksinkertaistamaan toistuvia analyyseja, kun taas menetelmät voidaan mukauttaa vaativampiin tutkimuksiin.

Joustavat mittaustilat ja näytetyypit

Eri näytteet vaativat erilaisia mittausmenetelmiä. RaptIR X tukee läpäisyä, heijastusta ja mikro-ATR:ää, mikä tarjoaa joustavuutta analysoitaessa esimerkiksi hiukkasia, kuituja, kalvoja, pinnoitteita ja materiaalikerroksia. Vankka näytealusta pystyy käsittelemään jopa 40 mm paksuja ja 5 kg:n näytteitä, mikä mahdollistaa työskentelyn useiden erikokoisten ja -muotoisten näytteiden kanssa.

Työnkulku- ja analyysiohjelmisto

RaptIR X käyttää Thermo Scientific OMNIC Paradigm -ohjelmistoa. Ohjelmisto tarjoaa ohjaavia työnkulkuja ja automatisoituja toimintoja, jotka voivat edistää johdonmukaisempaa analyysiprosessia. Käyttäjille, joilla on edistyneemmät tarpeet, on mahdollisuus mukauttaa menetelmiä ja työnkulkuja testin ja sovelluksen mukaan. Mikroskooppia voidaan käyttää erillisenä tai integroituna yhteensopivien Nicolet Apex- tai Nicolet iS50 FTIR -spektrometrien kanssa.

Materiaalianalyysiin ja vian tutkimiseen

RaptIR X:ää voidaan käyttää useilla alueilla, joilla materiaalit on tunnistettava tai tutkittava mikroskooppisella tasolla. Esimerkkejä ovat polymeeri- ja laminaattianalyysi, lääkekehitys, mikromuovianalyysi, rikostekninen tutkimus, geologia sekä kontaminaatio- ja materiaalivikojen tutkiminen. Kuvantamisen ja kemiallisen analyysin yhdistelmä voi auttaa laboratoriota ymmärtämään sekä näytteen rakenteen että koostumuksen.